絕緣電阻測試系統(tǒng)AMI
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可在高溫或高濕狀態(tài)下對試驗(yàn)樣品通電,連續(xù)進(jìn)行高精度絕緣阻抗變化的檢測。 | |
可用μsec單位間隔對離子遷移的發(fā)生造成的漏電進(jìn)行檢測。 | |
可廣范圍檢測絕緣阻抗,并能夠分別設(shè)定通電電壓及時(shí)間。 | |
使用電腦對試驗(yàn)設(shè)備進(jìn)行監(jiān)控的同時(shí)采集試驗(yàn)數(shù)據(jù)并進(jìn)行各種統(tǒng)計(jì)分析。 |
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型號 | AMI |
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絕緣電阻測試范圍 | 1×10 6 Ω~3×10 13 Ω(3pA~100μA) |
漏電檢測范圍 | 1~100μA |
測試電壓/通電電壓 | DC3V~100V/DC3V~100V |
測試時(shí)間 | zui長9,999小時(shí) |
電阻測試間隔 | zui短6分鐘 |
電阻測試時(shí)間 | 一次測試所需時(shí)間:標(biāo)準(zhǔn)60秒/25通道+充電時(shí)間 |
漏電流檢測間隔 | 常時(shí),檢測速度:μsec指令 |
測試通道數(shù) | 標(biāo)準(zhǔn)25通道(zui多100~150通道) |
控制電纜 | 耐熱+200℃,雙層屏蔽結(jié)構(gòu) |
系統(tǒng)柜尺寸 | W530×H1800×D1100mm |
電源要求 | AC100V,1Φ.15A |
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