測溫電纜使用過程中損壞問題

（1）從電子產品可靠性理論分析來看，計算機糧情測控系統(tǒng)大部分電子器件工作于低功耗狀態(tài)，電子器件實際使用時的電流、電壓和功耗遠低于允許zui大值，使用壽命應為半*性，失效率應當處于較低水平。然而，實際情況并非如此，除了電子器件自身的原因外，電路設計不合理、保護措施不到位、零部件選用不當、生產工藝水平低是引起糧情測控系統(tǒng)相關部件故障的重要原因；

（2）糧情測控系統(tǒng)中，測溫電纜等部件放置在倉內，常年接觸磷化氫、水汽等，使測溫電纜的焊接點、銅質引線、插接件極易受到腐蝕，導致失效。熱敏電阻封裝方式存在缺陷，抗拉強度較低，端頭封裝處極易脫落漏氣，導致水蒸氣、磷化氫氣體侵襲造成損壞；

（3）糧情測控系統(tǒng)損壞的另一個尚未引起注意的原因是靜電破壞。部分立筒倉、淺圓倉的測溫系統(tǒng)在糧食進倉前尚能正常工作，糧食進倉完畢后即出現(xiàn)部分或全部電纜失效，除了個別系電纜結構強度不夠被拉斷外，損壞的一個重要原因就是靜電破壞。在立筒倉、淺圓倉中，測溫電纜預先懸掛在倉庫中，在進倉過程中，流動的糧食與電纜摩擦產生靜電，盡管可換芯的數(shù)字式測溫電纜內部有一金屬套管，測溫元件（電纜芯）被金屬套管包圍著，常規(guī)的一體化測溫電纜外側也有鋼絲網(wǎng)作為保護層，來抵抗糧食進出時的強大拉力，以避免電纜拉斷損壞。但是一旦這些金屬保護層沒有可靠接地，測溫電纜表皮聚集的電荷與金屬管之間形成電場，導致金屬管也感應產生靜電，在測溫元件周圍形成電場，一旦電場強度足夠高，擊穿測溫元件，將導致半導體測溫芯片損壞。解決靜電引起的損壞，zui根本的辦法是將電纜金屬層可靠接地，使之形成靜電屏蔽層，防正因靜電引起的損壞。遺憾的是，靜電對測溫電纜的破壞尚未引起重視，眾多生產廠家均未對測溫電纜金屬層接地問題提出技術要求，而這正是許多立筒倉、淺圓倉“莫名其妙”損壞的原因。

此外必須重視通訊、控制線路、電源和計算機的接地保護工作，各測控分機、電源部件均須重復接地，計算機、電源接地應可靠，防止漏電、雷擊引起系統(tǒng)損壞。