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測(cè)溫電纜使用中損壞問(wèn)題
點(diǎn)擊次數(shù)：600 發(fā)布時(shí)間：2010-8-23
測(cè)溫電纜使用中損壞問(wèn)題
（1）從電子產(chǎn)品可靠性理論分析來(lái)看，計(jì)算機(jī)糧情測(cè)控系統(tǒng)大部分電子器件工作于低功耗狀態(tài)，電子器件實(shí)際使用時(shí)的電流、電壓和功耗遠(yuǎn)低于允許zui大值，使用壽命應(yīng)為半*性，失效率應(yīng)當(dāng)處于較低水平。然而，實(shí)際情況并非如此，除了電子器件自身的原因外，電路設(shè)計(jì)不合理、保護(hù)措施不到位、零部件選用不當(dāng)、生產(chǎn)工藝水平低是引起糧情測(cè)控系統(tǒng)相關(guān)部件故障的重要原因；
（2）糧情測(cè)控系統(tǒng)中，測(cè)溫電纜等部件放置在倉(cāng)內(nèi)，常年接觸磷化氫、水汽等，使測(cè)溫電纜的焊接點(diǎn)、銅質(zhì)引線、插接件極易受到腐蝕，導(dǎo)致失效。熱敏電阻封裝方式存在缺陷，抗拉強(qiáng)度較低，端頭封裝處極易脫落漏氣，導(dǎo)致水蒸氣、磷化氫氣體侵襲造成損壞；
（3）糧情測(cè)控系統(tǒng)損壞的另一個(gè)尚未引起注意的原因是靜電破壞。部分立筒倉(cāng)、淺圓倉(cāng)的測(cè)溫系統(tǒng)在糧食進(jìn)倉(cāng)前尚能正常工作，糧食進(jìn)倉(cāng)完畢后即出現(xiàn)部分或全部電纜失效，除了個(gè)別系電纜結(jié)構(gòu)強(qiáng)度不夠被拉斷外，損壞的一個(gè)重要原因就是靜電破壞。在立筒倉(cāng)、淺圓倉(cāng)中，測(cè)溫電纜預(yù)先懸掛在倉(cāng)庫(kù)中，在進(jìn)倉(cāng)過(guò)程中，流動(dòng)的糧食與電纜摩擦產(chǎn)生靜電，盡管可換芯的數(shù)字式測(cè)溫電纜內(nèi)部有一金屬套管，測(cè)溫元件（電纜芯）被金屬套管包圍著，常規(guī)的一體化測(cè)溫電纜外側(cè)也有鋼絲網(wǎng)作為保護(hù)層，來(lái)抵抗糧食進(jìn)出時(shí)的強(qiáng)大拉力，以避免電纜拉斷損壞。但是一旦這些金屬保護(hù)層沒(méi)有可靠接地，測(cè)溫電纜表皮聚集的電荷與金屬管之間形成電場(chǎng)，導(dǎo)致金屬管也感應(yīng)產(chǎn)生靜電，在測(cè)溫元件周圍形成電場(chǎng)，一旦電場(chǎng)強(qiáng)度足夠高，擊穿測(cè)溫元件，將導(dǎo)致半導(dǎo)體測(cè)溫芯片損壞。解決靜電引起的損壞，zui根本的辦法是將電纜金屬層可靠接地，使之形成靜電屏蔽層，防正因靜電引起的損壞。遺憾的是，靜電對(duì)測(cè)溫電纜的破壞尚未引起重視，眾多生產(chǎn)廠家均未對(duì)測(cè)溫電纜金屬層接地問(wèn)題提出技術(shù)要求，而這正是許多立筒倉(cāng)、淺圓倉(cāng)“莫名其妙”損壞的原因。
此外必須重視通訊、控制線路、電源和計(jì)算機(jī)的接地保護(hù)工作，各測(cè)控分機(jī)、電源部件均須重復(fù)接地，計(jì)算機(jī)、電源接地應(yīng)可靠，防止漏電、雷擊引起系統(tǒng)損壞。
3.3 推廣應(yīng)用可換芯電纜
在立筒倉(cāng)、淺圓倉(cāng)測(cè)溫系統(tǒng)中推廣應(yīng)用可換芯電纜，可換芯電纜由護(hù)套、測(cè)溫電纜芯組成，護(hù)套抗拉強(qiáng)度高，不易在糧食進(jìn)出倉(cāng)過(guò)程中被拉斷，使用中測(cè)溫電纜芯不直接與糧堆接觸，不承受糧堆的拉力，不容易受外界有害氣體腐蝕，發(fā)現(xiàn)問(wèn)題檢查更換方便，值得推廣。