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JEM-3200FS 場發(fā)射透射電子顯微鏡

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱廣州文明機電有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地廣州市
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時間2024/12/15 12:08:13
  • 訪問次數(shù)45
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廣州文明機電有限公司,簡稱GZ CVL(GZ Civil Mechatronic)成立于2006年,是業(yè)內(nèi)的企業(yè),由留學(xué)歸國的北京大學(xué)博士后和華南師范大學(xué)MBA班學(xué)生共同創(chuàng)辦,擁有數(shù)十項,為廣東省科技型中小企業(yè),屬國家與專精特新培育企業(yè)。十幾年來,我們一直專注的領(lǐng)域包括科學(xué)儀器、汽車測試儀器、非標(biāo)自動化設(shè)備、測試測量與控制、嵌入式開發(fā)工具和軟件工程。“GZ CVL”始終堅持品牌化經(jīng)營戰(zhàn)略,以服務(wù)為基礎(chǔ),以質(zhì)量求生存,以管理求發(fā)展,秉承一切以客戶為中心的服務(wù)理念。憑借多年來客戶的信任和支持,“GZ CVL”積累了豐富的營銷及安裝經(jīng)驗,是一家擁有的管理,的技術(shù)、高水平的營銷和完善的售后服務(wù)為一體化的專業(yè)化測試及分析儀器設(shè)備公司。工業(yè)推動中國,創(chuàng)新感動世界,GZ CVL以“創(chuàng)、建百年企業(yè)”為奮斗目標(biāo),積極促進(jìn)“中國制造”向“中國創(chuàng)造”的轉(zhuǎn)變。公司以“科技開創(chuàng)未來”為宗旨,以專業(yè)技術(shù)為核心,以優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品為先導(dǎo),為我國測試及分析技術(shù)發(fā)展做貢獻(xiàn),努力實現(xiàn)中國工業(yè)騰飛。 廣州文明依靠國內(nèi)外測試和分析儀器設(shè)備領(lǐng)域多家國際化大公司以及中山大學(xué)、華南理工大學(xué)的雄厚技術(shù)實力,代理專業(yè)測試分析儀器設(shè)備,開展相關(guān)技術(shù)培訓(xùn),自主研發(fā)配套軟硬件,并提供的系統(tǒng)解決方案。公司具有持續(xù)的自主創(chuàng)新能力和科研成果轉(zhuǎn)讓或者產(chǎn)業(yè)化的實力,核心產(chǎn)品包含:新能源汽車測試臺架,空燃比分析儀,尾氣分析儀,掃描電鏡,熱分析儀,光譜分析儀,質(zhì)譜分析儀等。"GZ CVL" 和 "希為爾"為廣州文明機電有限公司所擁有的兩個注冊商標(biāo)。本公司是日本HORIBA,日本Lineeye,美國Applus, 美國Innovate,美國midtronics,瑞典Kvaser,英國PICO,日本電子捷歐路(JEOL),德國林賽斯、韓國K LAB等公司的中國代理和經(jīng)銷商。GZ Civil Mechatronic Co. Ltd.(), founded on 2006.It is a well-known enterprise in the industry, focus on test and analytical instruments R & D, manufacture and sales. Our company is committed to carry out the relevant technical training, independent research and development of automotive and industrial automation system, and provide the most effective system solutions. Our core products include: Automotive teaching training equipment, engine power test system, automobile oscilloscope, exhaust gas analyzer etc. 所獲榮譽:一、廣州市科技型中小企業(yè)技術(shù)創(chuàng)新基金二、“LM-2空燃比測試儀”榮獲“全國20佳維修工具”獎三、汽車示波器 3423-kit榮獲“全國20佳維修工具”獎四、“立富L總線分析儀”榮獲“全國20佳維修工具”特別獎五、廣東省“優(yōu)秀信用企業(yè)”六、阿里巴巴誠信通會員七、慧聰網(wǎng)買賣通會員八、具有外貿(mào)進(jìn)出口權(quán)九、是增值稅一般納稅人十、自有商標(biāo)品牌十一、廣東省科技型中小企業(yè)
JEM-3200FS場發(fā)射電子顯微鏡配備了加速電壓為300kV的場發(fā)射電子槍(FEG)和鏡筒內(nèi)置式Ω型能量過濾器,能為廣泛的研究領(lǐng)域提供各種全新的解決方案。
JEM-3200FS 場發(fā)射透射電子顯微鏡 產(chǎn)品信息
  • JEM-3200FS場發(fā)射電子顯微鏡配備了加速電壓為300kV的場發(fā)射電子槍(FEG)和鏡筒內(nèi)置式Ω型能量過濾器,能為廣泛的研究領(lǐng)域提供各種全新的解決方案。

  • 鏡筒內(nèi)置式Ω型能量過濾器(omega 過濾器)

  • 鏡筒內(nèi)置式Ω型能量過濾器內(nèi)置于成像透鏡系統(tǒng),能容易地獲得能量過濾像和能量損失譜,同時還能獲得與傳統(tǒng)電子顯微鏡同等的放大倍率范圍。此外、Ω型過濾器的電子光學(xué)系統(tǒng)在設(shè)計上地減少了圖像畸變,出廠前還將剩余一點的畸變做了最后的修正。JEM-3200FS還采用了高靈敏度的相機系統(tǒng)及圖像處理系統(tǒng)(選配件),可以構(gòu)建元素面分布系統(tǒng)及能量損失譜系統(tǒng)。

  • 新型控制系統(tǒng)

  • 電子槍、電子光學(xué)系統(tǒng)、測角臺、抽真空系統(tǒng)等電子顯微鏡基本功能的系統(tǒng)化,實現(xiàn)了高穩(wěn)定、高性能的控制系統(tǒng)。圖像畫面和用戶界面采用Windows ®*1,可以進(jìn)行編程操作和附件的集中控制。

  • 新型測角臺

  • 系統(tǒng)化的新型測角臺內(nèi)置壓電陶瓷驅(qū)動機構(gòu),使高倍率下的樣品移動更加精確。*2.

  • *1 :  注意事項:Windows是微軟公司在美國和其他國家的注冊商標(biāo)。
    *2 :  僅有壓電元件包括在基本單元中,壓電元件的電源為選配件。

物鏡極靴*1 超高分辨UHR 高分辨率HR 高傾斜HT 高襯度HC
分辨率
 點分辨率
晶格分辨率
0.17nm
0.1nm
0.19nm
0.1nm
0.21nm
0.1nm
0.26nm
0.14nm
能量分辨率 0.9 eV(零損失FWHM)
加速電壓 300kV,200kV,100kV*2
 最小步長
 能量位移
100V
3,000V (以0.2V為步長)
電子槍
 發(fā)射體 ZrO/W(100) 肖特基式
 亮度 ≧7×108 A/cm2 ? sr
 真空度 3×10-8Pa
 探針電流 探針直徑為1nm時,電流在0.5nA以上
穩(wěn)定度
 加速電壓 2×10-6/min
 物鏡電流 1×10-6/min
 過濾器透鏡電流 1×10-6/min
物鏡
 焦距 2.7 mm 3.0 mm 3.5 mm 3.9 mm
 球差系數(shù) 0.6 mm 1.1 mm 1.4 mm 3.2 mm
 色差系數(shù) 1.5 mm 1.8 mm 2.2 mm 3.0 mm
 最小焦距步長 1.0 nm 1.4 nm 1.5 nm 4.1 nm
束斑尺寸
 TEM 模式 2 ~ 5 nmφ 2 ~ 5 nmφ 7 ~ 30 nmφ
 EDS 模式 0.4 ~ 1.6 nmφ 0.5 ~ 2.4 nmφ 4 ~ 20 nmφ
 NBD 模式 0.4 ~ 1.6 nmφ 0.5 ~ 2.4 nmφ -
 CBD 模式 0.4 ~ 1.6 nmφ 0.5 ~ 2.4 nmφ -
電子束衍射
 衍射角(2α) 1.5 t~ 20 mrad -
 取出角 ±10 ° -
倍率
 MAG 模式 ×2,500 ~ 1,500,000 ×2,000 ~ 1,200,000 ×1,500 ~ 1,200,000
 LOW MAG 模式 ×100 ~ 3,000
 SA MAG 模式 ×8,000 ~ 600,000 ×6,000 ~ 500,000 ×5,000 ~ 500,000
視野 10eV時狹縫寬度60mm(底片上)
2eV時狹縫寬度25mm(底片上)
相機長度
 選區(qū)電子衍射 200 ~ 2,000 mm 250 ~ 2,500 mm 400 ~ 3,000 mm
EELS 散射
 能量選擇
 在能量選擇狹縫上
0.85 μm/eV , 300 kV
 底片上 100 ~ 220 μm/eV , 300kV
樣品室
 樣品移動范圍 (XY/Z) 2mm/0.2mm 2mm/0.4mm 2mm/0.4mm 2mm/0.4mm
 樣品傾斜角 (X/Y) ±25°/±25°*3 ±35°/±30°*3 ±42°/±30°*3 ±38°/±30°*3
EDS*4
 固體角 0.13 sr 0.09 sr
 取出角 25° 20°
關(guān)鍵詞:電子顯微鏡
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